魅力中国
CN：41-1390/CISSN：1673-0992年,卷(期)：2024年5期
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X 射线荧光光谱法分析地质样品的应用
中文摘要：随着经济的不断发展，对矿产资源需求是越来越多。通过合理的矿石鉴定方法，可以更好地促进矿产行业的发展。在对矿石进行鉴定中，通常是通过观测矿石颜色、透明度等对矿石进行有效的分类，但是在对一些矿石进行鉴定中，通过光学显微镜不能对矿石特点进行辨别，需要通过热或者微量分析才能对矿石的化学组成进行获取。本文主要对 X 射线荧光光谱法原理和在地质样品分析中的应用进行阐述，以供参考。
关键词：
X 射线；矿石；光谱；荧光；鉴定
作者： 姜海梅 纪晓娟
作者单位：（锡林郭勒盟山金阿尔哈达矿业有限公司，内蒙古自治区 锡林郭勒盟 026000）
刊名：《魅力中国》
年,卷(期)：2024年5期
页码：189-191
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